Specyfikacja

Konstrukcja optyczna obiektywu

Wykres MTF

Oś pionowa: kontrast

Oś pozioma: odległość od centrum kadru

S: Sagittal (linie ułożone prostopadle do krzywizny obiektywu)

M: Meridional (linie ułożone równolegle do krzywizny obiektywu)

Szeroki kąt

Gęstość linii – 15 linii/mm

Odległość od centrum kadru

Gęstość linii - 45 linii/mm

Odległość od centrum kadru

Teleobiektyw

Gęstość linii – 15 linii/mm

odległość od centrum kadru

Gęstość linii - 45 linii/mm

Odległość od centrum kadru

Specyfikacja

TypFUJINON XF55-200mmF3.5-4.8 R LM OIS
Konstrukcja optyczna14 soczewek w 10 grupach
(w tym 1 soczewka asferyczna i 2 soczewki ED)
Ogniskowaf=55 - 200 mm (odpowiada zakresowi 84-305 mm w formacie pełnej klatki 35 mm)
Kąt widzenia29,0° - 8,1°
Maksymalny otwór przysłonyF3.5 - F4.8
Minimalny otwór przysłonyF22
Kontrola przysłony
Liczba listków przysłony7 (zaokrąglony otwór przysłony)
Rozmiar kroku1/3EV (17 kroków)
Zakres ostrości
Tryb standardowy1,1 m - ∞ (w całym zakresie ogniskowych)
Tryb makro1,1 m - 3 m (w całym zakresie ogniskowych)
Powiększenie maksymalne0,18x (teleobiektyw)
Wymiary zewnętrzne: średnica x długość*1 (w przybliżeniu)ø75,0 mm x 118 mm (szeroki kąt)/177 mm (teleobiektyw)
Waga *2 (w przybliżeniu)580 g
Rozmiar gwintu filtraø62 mm

UWAGI

*1 Odległość od kołnierza mocowania obiektywu

*2 Bez dekielków i osłon obiektywu

RECENTLY VIEWED ITEMS